冠層結(jié)構(gòu)一一葉片的數(shù)量及其分布情況，是研究冠層中光線穿透情況，冠層生產(chǎn)力，冠

　　層下土壤水分蒸發(fā)損失總量，冠層截留，及土壤溫度的基礎(chǔ)因子。同時(shí)對(duì)于不同尺度上的生

　　態(tài)系統(tǒng)過程、系統(tǒng)之間的物流和能流的研究均是非常重要的。

　　葉面積指數(shù)測量儀(葉面積指數(shù)測量儀)魚眼鏡頭可以伸入至冠層中：鏡頭安裝在搖臂一端，由于小巧和帶有測量桿，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠層不同高度處，快速地進(jìn)行分層測量，測出群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖;圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))。圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))。

　　儀器介紹:

　　葉面積指數(shù)測量儀(用于各種高度植物冠層的研究,利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植

　　物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。

　　葉面積指數(shù)測量儀測試原理:

　　采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。

　　葉面積指數(shù)測量儀可測參數(shù):

　　可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指

　　數(shù)和葉片平均傾角等

　　葉面積指數(shù)測量儀測試方法:

　　植物冠層分析儀儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法,該方法

　　是各類方法中/精確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。