在眾多地面簡介測量方法中，植物冠層分析系統(tǒng)技術(shù)利用攝影成像技術(shù)獲取植被葉面積指數(shù)是其中的一種重要分支。成像方法測量葉面積指數(shù)的基本原理是通過對植被冠層進(jìn)行單一角度或者多角度拍照，并采用一種合適的分類方法，根據(jù)拍照的角度不同，進(jìn)行處理后得到植被冠層單一角度或者多角度間隙率，然后根據(jù)間隙率模型推算葉面積指數(shù)。

相比較于一些的LAI測量儀器，在攝影成像法獲取葉面積指數(shù)的技術(shù)方案中，可用的成像設(shè)備類型比較豐富，包括專業(yè)的單反相機(jī)以及普通的數(shù)碼相機(jī)，還有早期的膠片相機(jī)。因此，攝影成像法是一種更為靈活的LAI地面測量技術(shù)。

植物冠層分析系統(tǒng)功能特點(diǎn)

植物冠層測量儀為一體化設(shè)計，包括液晶顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿等。儀器菜單操作簡單，體積小，攜帶方便。存儲介質(zhì)為市場上通用的SD卡，存儲容量大，數(shù)據(jù)管理方便！在功耗上有合理的電源管理方案，測試過程中儀器根據(jù)實(shí)際情況自動進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)，需要時按喚醒鍵即可喚醒屏幕，觀察實(shí)際數(shù)據(jù)。測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時間間隔小1分鐘，自動測量次數(shù)大99次，手動測量根據(jù)實(shí)際需要手動采集即可。

測試原理與方法
植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中/精確和省力、省時、快捷方便的方法。